QNix8500涂層測(cè)厚儀

QNIX ® 8500系統(tǒng)-涂層厚度測(cè)量用于廣泛范圍的應(yīng)用：

• 模塊化儀表系統(tǒng)，可互換探頭，最大測(cè)量范圍可達(dá)5,000μm

• 拇指大小的無(wú)線探頭允許在難以接近的地區(qū)使用

• 用于小部件和薄涂層的筆式探針 

• 高測(cè)量速度（高達(dá)120讀數(shù)/分鐘）

• 內(nèi)存容量最高可達(dá)30,000次，最高可達(dá)200批次

• 用于統(tǒng)計(jì)分析和記錄的軟件

• 可選保護(hù)性橡膠罩，可提高震動(dòng)靈敏度

可選探頭

QNix8500涂層測(cè)厚儀?主機(jī) 
基 體：Fe、NFe、FeNFe 
探頭形式： 一體、 分體 
顯 示： LCD液 晶 顯 示 
測(cè)量范圍： 0－2000μm、0－5000μm 
測(cè)量精度： 0－2000μm： ≤±2％2000－5000μm：≤±3％ 
最小基體： Fe：10mm×10mm 。NFe：6mm×6mm 
最薄基體： Fe：0.2mm、 NFe：0.05mm 
最小曲率： 凸半徑：5mm 凹半徑：30mm 
存儲(chǔ)功能： 100個(gè)讀數(shù)，1個(gè)數(shù)據(jù)組 
統(tǒng)計(jì)功能 ：平均值，最大值，最小值，標(biāo)準(zhǔn)偏差 。

實(shí)物圖片：