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德國(guó)EPK總代理

產(chǎn)品時(shí)間:2024-07-05

簡(jiǎn)要描述:

德國(guó)EPK總代理,MiniTest系列測(cè)厚儀,Minitest4100測(cè)厚儀,MIKROTEST (麥考特)涂層鍍層測(cè)厚儀,MiniTest 600BF3涂層測(cè)厚儀,EPK測(cè)厚儀總代理,涂層測(cè)厚儀 漆膜涂層測(cè)厚儀 塑料涂層測(cè)厚儀 兩用涂層測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀廠家 涂層鍍層測(cè)厚儀 麥考特涂層測(cè)厚儀 進(jìn)口涂層測(cè)厚儀

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德國(guó)EPK總代理-上海遂歐儀器有限公司

 

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀主機(jī)

 


型號(hào)
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

多10,000個(gè)

多10,000個(gè)

多100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù),小值,大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限

測(cè)量單位

um,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

 

德國(guó)EPK總代理SIDSP探頭

 


探頭
特性

F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

F2

F5,N2.5,F(xiàn)N5

F15

F

N

F

F

N

F

測(cè)量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

厚涂層

測(cè)量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號(hào)處理

探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)

精確度

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復(fù)性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半徑(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)

30mm

30mm

30mm

小測(cè)量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測(cè)量速度

每秒20個(gè)讀數(shù)

單值模式下大測(cè)量速度

每分鐘70個(gè)讀數(shù)

 

Minitest700系列涂層測(cè)厚儀運(yùn)用的SIDSP技術(shù)是什么?

SIDSP是由ElektrPhysik(簡(jiǎn)稱EPK)研發(fā)的,世界的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。

SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

 

Minitest700系列涂層測(cè)厚儀的工作原理?

跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào),回傳的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您精確的涂層厚度值。此項(xiàng)*的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和精確度。厚度值通過(guò)探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。Minitest700系列涂層測(cè)厚儀的探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢(shì),為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。

 

為什么選擇Minitest700系列涂層測(cè)厚儀?

Minitest700系列涂層測(cè)厚儀探頭具有*的抗干擾性任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào),都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過(guò)探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾,因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒(méi)問(wèn)題,加長(zhǎng)的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

 

Minitest700系列涂層測(cè)厚儀,測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性:EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)秀性能。

 

高精確度的Minitest700系列涂層測(cè)厚儀探頭特征曲線,在生產(chǎn)過(guò)程中,EPK的Minitest700系列涂層測(cè)厚儀探頭要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準(zhǔn),但SIDSP探頭不同:由于是全自動(dòng)化過(guò)程,探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn),大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn),將測(cè)量錯(cuò)誤降至zui低。

 

Minitest700系列涂層測(cè)厚儀的探頭對(duì)溫度變化不敏感

在生產(chǎn)過(guò)程中,對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量,與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生!

 

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